Электронно-микроскопический метод исследования материалов
Loading...
Date
Authors
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
ҚарМУ баспасы
Abstract
В работе рассматривается использование растрового электронного микроскопа MIRA 3 (TESCAN)
в
исследованиях микроструктуры материалов. Приведены полученные микроскопические
снимки полупроводниковых объектов и диэлектриков, снятых в различных режимах работы микроскопа,
а также при
разных увеличениях.
Description
Citation
Ибраев Н.Х. Электронно-микроскопический метод исследования материалов/Н.Х.Ибраев, Д.Б.Абжанова, А.С.Комутова//Академик Е.А.Бөкетовтің ғылыми және шығармашылық мұрасы: Е.А.Бөкетовтің 90 жылдығына арналған Халықарал.ғыл. - тәжір.конф.материалдары (27-28 наурыз).=Научное и творческое наследие академика Е.А.Букетова.- Қарағанды. - 2015.-Т.1.-С.220-223