Электронно-микроскопический метод исследования материалов

dc.contributor.authorИбраев, Н.Х.
dc.contributor.authorАбжанова, Д.Б.
dc.contributor.authorКомутова, А.С.
dc.date.accessioned2016-11-04T09:09:43Z
dc.date.available2016-11-04T09:09:43Z
dc.date.issued2015-03-28
dc.description.abstractВ работе рассматривается использование растрового электронного микроскопа MIRA 3 (TESCAN) в исследованиях микроструктуры материалов. Приведены полученные микроскопические снимки полупроводниковых объектов и диэлектриков, снятых в различных режимах работы микроскопа, а также при разных увеличениях.ru_RU
dc.identifier.citationИбраев Н.Х. Электронно-микроскопический метод исследования материалов/Н.Х.Ибраев, Д.Б.Абжанова, А.С.Комутова//Академик Е.А.Бөкетовтің ғылыми және шығармашылық мұрасы: Е.А.Бөкетовтің 90 жылдығына арналған Халықарал.ғыл. - тәжір.конф.материалдары (27-28 наурыз).=Научное и творческое наследие академика Е.А.Букетова.- Қарағанды. - 2015.-Т.1.-С.220-223
dc.identifier.urihttps://rep.buketov.edu.kz/handle/data/406
dc.language.isootherru_RU
dc.publisherҚарМУ баспасыru_RU
dc.relation.ispartofseriesАкадемик Е.А.Бөкетовтің ғылыми және шығармашылық мұрасы: Е.А.Бөкетовтің 90 жылдығына арналған Халықарал.ғыл. - тәжір.конф.материалдары (27-28 наурыз).=Научное и творческое наследие академика Е.А.Букетова.- Қарағанды. - 2015.-Т.1.
dc.subjectэлектронный микроскоп MIRA 3 (TESCAN)ru_RU
dc.subjectмикроструктура материаловru_RU
dc.titleЭлектронно-микроскопический метод исследования материаловru_RU
dc.typeArticleru_RU

Files

Original bundle

Now showing 1 - 1 of 1
Loading...
Thumbnail Image
Name:
Ibraev_N_t_1.pdf
Size:
1.69 MB
Format:
Adobe Portable Document Format

License bundle

Now showing 1 - 1 of 1
Loading...
Thumbnail Image
Name:
license.txt
Size:
1.71 KB
Format:
Item-specific license agreed upon to submission
Description: