Увеличение производительности компьютерных вычислений рентгеновских рефлектограмм

Abstract

Мақалада екі толқынды рентгендік рефлектометрдің тəжірибелік нəтижелерін көп қабыршақты құрылым параметрлерін анықтау дəлдігіне алдын ала түрлендіру əсері қарастырылды. Нəтижелерді компьютерлік өңдеу үшін CUDA технологиясын қолданудың эффективтілігі зерттелді. Сондай-ақ екі толқынды рентгендік рефлектометр əдісін үлгілеу бойынша есептеу жүргізудің эффективтілігін арттыру үшін CUDA технологиясын қолдану ұсынылды.

A novel algorithm of experimental data set transformation is presented in respect of double-wave X-ray reflectometry. This algorithm is realized with computer unified device architecture (CUDA). An impact of concerned algorithm application on accuracy of multi-layer structures parameters and efficiency of respective parameters computation are studied. Effective way of multi-layer structure parameters calculations for doublewave X-ray reflectometry models with the help of CUDA based algorithms is declared