Новые оксотеллуриты гадолиния: синтез и характеристика

Abstract

Методом керамической технологии с твердофазным взаимодействием оксидов Gd2O3 и TeO2 с карбонатами MgCO3, CaCO3 синтезированы оксотеллуриты гадолиния GdMeTeO4,5 (Me–Mg, Сa). Рентгенографические характеристики получены при помощи порошкового дифрактометра Empyrean и специализированных программ Data Collector версии 7.7h и X'Pert HighScore Plus с использованием баз данных Crystallography Open Database и PDF-2. На основании рентгенографических исследований установлено, что синтезированные теллуриты кристаллизуются в тетрагональной сингонии. Достоверность и корректность результатов индицирования подтверждают удовлетворительное совпадение величин экспериментальных и расчетных параметров кристаллической решетки, объемов элементарных ячеек, рентгеновской и пикнометрической плотностей. Исследованием температурной зависимости электросопротивления теллурита гадолиния – магния установлено, что соединение может обладать полупроводниковыми свойствами с шириной запрещенной зоны ΔЕ = 2,64 ± 0,13 ∙ 10–2 эВ. Результаты могут быть использованы для синтеза и изучения новых производных теллура и редкоземельных элементов и представляют интерес для электронной технологии. Рентгенографические характеристики новых теллуритов s-, f-элементов являются исходными материалами для включения в фундаментальные банки данных и справочники